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三軸振動臺
產品型號：JQA-031-150 品牌：劍 喬 用途：三軸振動臺JQA-031-150由：振動臺體、功率放大器、水平滑臺、擴展臺、振動控制器、加速度計等組成振動試驗臺可以模擬振動環(huán)境，測試各種振動試驗應用領域中的沖擊強度和可靠性。咨詢熱線：13829135130
- 產品介紹
- 規(guī)格參數
- 產品視頻
- 服務保障
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產品簡介：三軸振動臺（型號：JQA-031-150）是由：振動臺、功率放大器和振動測控制系統(tǒng)組成了一套完整的振動試驗系統(tǒng)，依照相關的國家和國際標準（如：MIL-STD、DIN、ISO、ASTM、IEC、ISTA、GB、GJB、JIS、BS等）在實驗室條件下模擬振動環(huán)境，測試各種振動試驗應用領域中的沖擊強度和可靠性。在實驗室借助振動試驗機系統(tǒng)可以模擬再現正弦、隨機、諧振搜尋與駐留、典型沖擊和道路仿真等模式。對于產品的質量保證、新品研發(fā)都是必不可少的。
產品優(yōu)勢：
**** 位移可選76mm或100mm.uDisplacement peak-to-peak value of 76mm or 100mm.**** 可定制不同直徑的動圈. Customize the diameter of armture is available.
三軸振動臺試驗滿足以下標準：
● GB/T 2423.10-1995 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fc和導則: 振動(正弦)● GB/T 2423.11-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動—一般要求● GB/T 2423.12-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—高再現性● GB/T 2423.13-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動中再現性● GB/T 2423.14-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動低再現性● GB/T 2423.35-1986 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法● GB/T 2423.36-1986 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動(正弦)綜合試驗方法● GB/T 2423.48-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動—時間歷程法● GB/T 2423.49-1997 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動—正弦拍頻法● GB/T 2424.22-86電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正玄）綜合試驗導則● GB/T 2424.24-1995 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正玄）綜合試驗導則
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三軸振動臺參數表
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